扩展X射线吸收EXAFS (5-12keV) | 瑆创光学电子商店

  这是一款完整的基于实验室的扩展X射线吸收精细结构（EXAFS）和X射线吸收近边结构（XANES）测量解决方案。

  在紧凑的机身中，它集成了X射线管源、高分辨率光谱仪和混合探测器，以及一套用于控制仪器功能和数据分析的软件。光谱质量与同步加速器测量相当，因此无需申请束流时间。

  X射线管源和光谱仪覆盖5至12 keV的能量范围，因此包括3d过渡金属的K吸收边。光谱仪优化的HAPG von Hamos架构产生了极高的信噪比，导致分析物浓度在较低百分比时权重较低。该仪器结合了高效率和高光谱分辨率能力，高达E/ΔE = 4000，在覆盖的吸收边范围内保持不变。

 用于EXAFS和XANES的hiXAS可访问的元素范围测量。

  即使分析物浓度仅为百分之几的稀释样品，也可在几分钟内完成测量。

 10um铜箔的样品XAFS测量，比较实验室（红色）和同步加速器（黑色）结果。

 EXAFS振荡（左）和相应的傅立叶变换（右）。

 采集时间：有样品3min，无样品1.5min。

 6微米厚镍箔的X射线吸收光谱。与（另一）光谱进行比较

 在同步加速器上获得（NSLS，分辨率E/ΔE=5000）

 显示桌面仪器的高质量结果。

 所有相关的光谱特征都存在，允许化合物的测定