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X射线光谱仪 (1- 20keV) | 瑆创光学电子商店

X射线光谱仪 (2 - 4keV)

hardLIGHT X 射线光谱仪 (2 - 4keV)

TXS光谱仪能够在HHG光束线、X射线自由电子激光器和桌面X射线激光器上进行精确的光子诊断。单次拍摄即可测量2 keV至4 keV之间的光子能量。在高效率背散射的Von Hamos几何结构中,X射线光谱在线用于束流特性分析。

透射光束保持未受干扰,透射率超过90%,可用于进一步实验。只需将背散射探针与材料样品交换,即可使hardLIGHT TXS准备好进行X射线发射光谱细小的X射线探(XES)。测器可以灵敏地探测许多材料的化学状态,例如,在 2keV下对硫的探测可以为电池研究提供重要的见解。

X射线光谱仪.JPG

 

 

产品规格

参数 典型值 备注
产品型号 硬光发射  
系统 von Hamos  
能量范围(KeV) 2-4 keV , 分辨率 0.3eV  
光源距离 可变  
探测器 CCD 或 MCP/CMOS 或混合  
真空压强(mbar) < 10-6 提供特高压版本
晶体定位方式 电动闭环  
光谱滤波器插入选项 可选  
控制接口 以太网  
软件 Windows UI 和 LabVIEW/VB/C/C++标清  
定制 可定制  

 

多面性

• 占地面积小

• 在实验站之间轻松转移

• 操作直观

操作模式

• 2-4keV的发射光谱

• 集成样品安装

• < 10-4 的高能量分辨率,带宽为 2%

 

诊断操作模式

• HHG 光束线上的在线光束表征,

• X射线自由电子激光器,

• 台式X射线激光器

• 带反向散射探头的非干扰架构

• 高透射率>90%

 

 

 

框.JPG

 

定制

• 每台光谱仪都经过定制,以完全符合要求

应用,例如:

• 台式 X 射线光谱仪

• 布拉格/劳厄X射线光谱仪

• 晶体/多层组合光谱仪

• 托卡马克诊断

• 蒙特卡罗模拟

 

硬光.JPG

 

 


相关UV像机选项

产品
型号

maxCAM

easyCAM XF95
传感器

 来自 e2v(1 级)的背照式 CCD,增强工艺,未镀膜

来自 e2v(1 级)的前照式 CCD,增强工艺

背照式sCMOS,无防反射涂层

波长 1-100nm( 最佳 QE) 50-300nm -
 像素  1024 x 255 * 2048 x 2048
 像素大小  26 x 26 um 11um x 11 um
 图像区域  26.7 x 6.7 mm 22.5mm x 22.5mm
 频谱率  200/s 全垂直 bin, 1000/s 裁剪模式 80-1000eV; 200 nm-1100nm
 最低温度  -60° C 风冷 -50° C 在20° C 室温
井深

 500 000 电子活动区域,  1 000 000 电子注册

90 000 e-

 读取噪音  12.5等 在 500kHz 1.6 e- (中位数)
 暗电流  0.004 e- /px/s 在 -60°C -
 线性度  >99% -
 真空兼容性  10-8mbar 10-7Pa(最大值)

 

相关光谱仪产品

Product Model Wavelength (nm) Dispersion Resolution  
超轻型专业版 (XUV) 5 至 80 0.5 to   1.3nm/mm <0.028nm 在 40nm
易光 (XUV) 30 至 250 ~2.0nm/mm <0.1nm
高光(XUV) 1 至100 - <0.1nm
最大亮度 (VUV) 40 至 200 0.9 to   1.6nm/mm <0.05nm 在 120nm
易光 (VUV) 80 至  300 ~2.5nm/mm <0.1nm
X射线光谱
2-4 keV   0.3eV
扩展的X射线光谱 5-12keV    
近边缘X射线吸收
200 - 1200eV
   

我们在这里等你!

 

 

 

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