VUV 光谱仪 (80-300nm) | 瑆创光学电子商店

VUV 光谱仪规格比较

英文产品册：maxLIGHT pro ｜easyLIGHT vuv

中文产品册：easyLIGHT中文产品册.pdf | maxLIGHT中文产品册.pdf

VUV光谱仪无狭缝技术的优势 

源的直接成像 与传统设备相比，惠普创新的 XUV / VUV 光谱仪不需要窄  入口孔径，而是将谐波源直接成像到探测器上。因此 80% 或更多的 入射光束可用于测量。这种配置通常收集 15 到 25 倍的光  与标准版本相比，信噪比提高了相同的比率。在一些实验中，  这种改进的信号强度是实现测量的关键步骤。

卓越的信号强度

光谱仪收集的光量是影响其整体灵敏度的关键因素，也是获得高光谱所需的最重要特征 

即使来源较弱，也能提供高质量的数据。传统的光谱仪使用距光栅固定距离的入口孔径（狭缝）来创建一个小光源， 

然后分散并成像到检测器上。与此相反，H+P 光谱仪可以配置为直接对位于任何位置的辐射源进行成像 

从光栅到探测器的距离。在实践中，与点状辐射源相比，这允许收集 15 到 25 倍的光。 

具有 100µm 入口狭缝的传统光谱仪不会降低光谱分辨率。

坚固的设计

我们的 XUV 和 VUV 光谱仪的紧凑设计使其对机械和环境干扰（振动、声学、 

ETC）。外部没有移动部件，仪器内部带有绝对位置监控的闭环电机增加了坚固性并允许监控 

光栅始终对齐。光谱仪可以直接用螺栓固定在真空室中，并且能够承载自身的重量。不需要表格。这 

设计还允许安装在几乎任何方向。

抗错位能力强

由于坚固的设计，即使更小的凸块也不会影响仪器的对齐。如果在启用电机控制时仪器受到重击，则 

可以使用光栅定位电机将光栅重新定位到保存的设置。此外，没有入口狭缝的光谱仪的概念也使得 

仪器对错位不太敏感。在典型操作条件下，光束在光谱仪入口处的色散方向未对准 

500um 将导致带有入口狭缝的仪器的信号减少 20% 以上，而我们的设计则不到 10%。

平场成像技术 我们所有的光谱仪都基于高质量的像差校正平场光栅。与传统相比  这些光栅将所有波长聚焦到一个平面上，而不是一个圆上。这允许定位整个  光栅焦平面中的探测器，以实现卓越的光谱分辨率。

最大光临

无缝平场XUV光谱仪和光束轮廓仪

我们的 maxLIGHT 专业光谱仪具有从 1nm 到 200nm 的像差校正平场波长覆盖范围。宽带光谱测量可以通过覆盖1-20nm，5-80nm和40-200nm的三个光栅进行。光谱仪可以在没有入口狭缝的情况下使用，以最大限度地提高光源距离范围的光收集。其模块化设计能够匹配不同的实验几何形状和配置。它具有集成的狭缝支架和过滤器插入单元，以及电动光栅定位。

易光光谱仪

 紧凑型 VUV 光谱仪

我们的 easyLIGHT 光谱仪在真空紫外光谱区域提供像差校正波长覆盖。基于法线入射几何，它提供光谱仪和单色仪功能。高效光栅可以通过高精度定位系统围绕其顶点旋转，从而使出射狭缝处的波长选择精度<0.1 nm。入口和出口狭缝宽度可通过千分尺螺钉或电动执行器（可选）设置在 0.01 至 4 mm 的范围内。

相关XUV相机选项

产品
型号	maxCAM	easyCAM	XF95
传感器	来自 e2v（1 级）的背照式 CCD，增强工艺，未镀膜	来自 e2v（1 级）的前照式 CCD，增强工艺	背照式sCMOS，无防反射涂层
波长	1-100nm( Best QE)	50-300nm	-
像素	1024 x 255 *		2048 x 2048
像素大小	26 x 26 um		11um x 11 um
图像区域	26.7 x 6.7 mm		22.5mm x 22.5mm
频谱率	200/s 全垂直 bin, 1000/s 裁剪模式		80-1000eV; 200 nm-1100nm
最低温度	-60° C 风冷		-50° C @20° C 室温
井深	500 000电子活动区域,  1 000 000 电子注册		90 000 e-
读取噪音	12.5 等. 在 500kHz		1.6 e- (中位数)
暗电流	0.004 e- /px/s 在 -60°C		-
线性度	>99%		-
真空兼容性	10-8mbar		10-7Pa(最大值)

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