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紫外-可见光光束轮廓分析仪（190-1100nm）

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SIMTRUM提供的光束分析仪通过CMOS探测器接收经过光学系统聚焦或直接投射的光束，其内置的处理系统将探测器的数据进行处理，通过捕获和分析光束的二维和三维强度分布提供光束的强度分布、光斑形状、大小和光束质量等光束特性参数。常用于激光系统的优化、光束质量评估以及光束监控等领域。

功能示例

光斑跟踪

3D显示

XY显示

应用示例

激光器检测

光束质量检测、焦点标定

产品尺寸

型号	波长范围	分辨率	像素尺寸	最大功率
IR Beam Profiler (2-16um) \| SIMTRUM Photonics Store	190-1100nm	最高4096*3072	3.45 um	1W
Terahertz Beam Profiler(3-20 THz) \| SIMTRUM Photonics Store	350-1750nm	最高1920*1080	5 um	1W
Scanning Slit Beam Profiler (190-2500nm) \| SIMTRUM Photonics Store	190-1100nm	最高1920*1080	/	50W
IR Beam Profiler	2-16 um	540*480	17 um	/
Terahertz Beam Profiler	3-20 THz	最高2048*2048	5.5 um	/
Scanning Slit Beam Profiler	190-2500nm	/	/	/

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	Availability	Reference Price (USD)
LA-CC01-BP-VIS 检测波段300-1100nm，分辨率24482048，动态范围70dB，传感器尺寸8.47. 1mm，像元尺寸3.45μm	4-6周	$2993.23
LA-CC01-BP-UV 检测波段190-340nm/340-1100nm，分辨率24482048，动态范围70dB，传感器尺寸8.47. 1mm，像元尺寸 3.45μm	4-6周	$3404.68
LA-CC01-BPH-VIS 检测波段300-1100nm，分辨率40963072，动态范围70dB，传感器尺寸13.19.8mm，像元尺寸 3.45μm	4-6周	$4276.62
LA-CC01-BPH-UV 检测波段190-340nm/340-1100nm，分辨率40963072，动态范围70dB，传感器尺寸13.19.8mm，像元尺寸3.45μm	4-6周	$4576.94

Compare	Model		Drawings & Specs	Availability	Reference Price (USD)